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Article光譜共焦傳感器兩種測量模式介紹
更新時間：2018-06-25 點擊次數：1939次
光譜共焦傳感器兩種測量模式介紹
光譜共焦傳感器外部掃描有一個重要的特性，實際上它是一個點傳感器，換句話說，在給定時刻傳感器測量的是一個位于其光軸上的單點。為了得到一個曲線，或者測量整個表面，必須用一些外部掃描設備做輔助，沿著一個軸或者兩個軸掃面樣品。一般情況掃描設備是機動的；在一些情況下它還包含編碼器來確定任意時刻樣品的位置。在一些應用中傳感器和外部掃描設備的同步性是一個重要的問題。CCS-100可能同時作為“從”和“主”。
光譜共焦傳感器同步傳感器通常需要同步傳感器與一個外加設備，比如一個編碼器，運動控制器或者一個能表明在傳送帶上運動物體路徑的光電管。當與傳感器同步的外部設備是一個數字編碼時，這個任務就很簡單，因為它是由CCS-100自動進行同步的。
厚度模式是一個附加的測量模式，專門用來測量透明樣品的厚度。這種模式下傳感器同時測量透明樣品兩面的位置，然后通過兩個位置的不同計算出厚度。測量厚度比測量位移更難，度也下降。厚底測量也受一些限制。為了獲得在該模式下的計量性能，應該執行一個特殊的叫做“厚度校準”的程序。厚度校準是用戶來執行的。這個過程需要一個厚度標準。
測量數據
在樣品的每一個點傳感器都要同時測量幾個數據。 在位移測量模式下測量數據有：
√被測樣品點的距離
√反回的散射光束的光強
在厚度模式下測量數據有：
√樣品個面的距離和光強
√樣品第二面的距離和光強
√厚度
光譜共焦傳感器位移模式是專門用來測試樣品表面點的高度的。位移數據使用30比特的數字分辨率傳輸的。當測量一個不透明樣品（金屬，紙，陶瓷……）剖面高度時，使用位移模式就很直觀簡單。
當測量薄的透明樣品或者有涂層樣品時，就會發生傳感器同時得到兩個信號的情況：涂層表面反射一個信號，底層反射第二個信號。傳感器默認選擇強的信號并且忽略其它收到的信號，不管其譜峰的相對位置。在一些應用中這種處理不是佳：在上面的例子中，底層材料的反射率一般比涂層的反射率強，而我們可能需要測量的是涂層表面。主題會給出峰模式的在這種應用中的解決方法。
光譜共焦傳感器外部掃描有一個重要的特性，實際上它是一個點傳感器，換句話說，在給定時刻傳感器測量的是一個位于其光軸上的單點。為了得到一個曲線，或者測量整個表面，必須用一些外部掃描設備做輔助，沿著一個軸或者兩個軸掃面樣品。一般情況掃描設備是機動的；在一些情況下它還包含編碼器來確定任意時刻樣品的位置。在一些應用中傳感器和外部掃描設備的同步性是一個重要的問題。CCS-100可能同時作為“從”和“主”。
光譜共焦傳感器同步傳感器通常需要同步傳感器與一個外加設備，比如一個編碼器，運動控制器或者一個能表明在傳送帶上運動物體路徑的光電管。當與傳感器同步的外部設備是一個數字編碼時，這個任務就很簡單，因為它是由CCS-100自動進行同步的。
厚度模式是一個附加的測量模式，專門用來測量透明樣品的厚度。這種模式下傳感器同時測量透明樣品兩面的位置，然后通過兩個位置的不同計算出厚度。測量厚度比測量位移更難，度也下降。厚底測量也受一些限制。為了獲得在該模式下的計量性能，應該執行一個特殊的叫做“厚度校準”的程序。厚度校準是用戶來執行的。這個過程需要一個厚度標準。
測量數據
在樣品的每一個點傳感器都要同時測量幾個數據。 在位移測量模式下測量數據有：
√被測樣品點的距離
√反回的散射光束的光強
在厚度模式下測量數據有：
√樣品個面的距離和光強
√樣品第二面的距離和光強
√厚度
光譜共焦傳感器位移模式是專門用來測試樣品表面點的高度的。位移數據使用30比特的數字分辨率傳輸的。當測量一個不透明樣品（金屬，紙，陶瓷……）剖面高度時，使用位移模式就很直觀簡單。
當測量薄的透明樣品或者有涂層樣品時，就會發生傳感器同時得到兩個信號的情況：涂層表面反射一個信號，底層反射第二個信號。傳感器默認選擇強的信號并且忽略其它收到的信號，不管其譜峰的相對位置。在一些應用中這種處理不是佳：在上面的例子中，底層材料的反射率一般比涂層的反射率強，而我們可能需要測量的是涂層表面。主題會給出峰模式的在這種應用中的解決方法。
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